JEOL JSM-6510 掃描電子顯微鏡，成色良好，功能完整，配備真空泵、控制電腦和軟件，適用于材料學、電子、生命科學等表面微結構分析。

EOL JSM-6510 是一款性能穩定、應用廣泛的掃描電子顯微鏡（SEM），適用于微米及納米級表面結構的高分辨率成像。本設備為二手原裝拆機，經過專業檢測，功能完好，外觀保存良好。

主要特點：

• 型號：JEOL JSM-6510

• 放大倍率：10× 至 300,000×

• 分辨率：約 3.0 nm（高真空模式）

• 加速電壓：0.3 – 30 kV

• 探測器：標準 SEI 二次電子探測器，可選 BSE 背散射電子探測器

• 真空系統：配套 ULVAC 油封旋片真空泵

• 控制系統：含專用控制電腦、顯示器與操作軟件

• 應用領域：材料學研究、半導體檢測、金屬表面分析、生物樣品觀察

設備狀態：

• 成色：二手，外觀良好

• 功能：經檢測運行正常

• 附件：真空泵、控制電腦、顯示器、操作臺

• 軟件：已安裝 JEOL SEM 控制軟件

適用范圍：
本設備可廣泛應用于科研院所、大學實驗室、電子工廠檢測部門，以及各類材料與生命科學研究。