JEOL JSM-7600F 場發射掃描電子顯微鏡，成色良好，功能正常，配套電腦與操作系統，適用于高分辨率表面分析。

JEOL JSM-7600F 是一款高性能場發射掃描電子顯微鏡（FE-SEM），采用場發射電子槍，具備極高的分辨率和寬廣的加速電壓范圍，適合納米級表面結構觀察和分析。本設備為二手原裝，經過專業檢測，功能完好，配套控制電腦和操作系統，可直接投入使用。

主要參數與特點：

• 型號：JEOL JSM-7600F

• 電子槍：場發射電子槍（FEG）

• 分辨率：約 1.0 nm (15 kV)，更低電壓下仍具備優良成像性能

• 放大倍率：10× – 1,000,000×

• 加速電壓：0.1 – 30 kV

• 探測器：二次電子（SE）、背散射電子（BSE）

• 樣品臺：5軸電動樣品臺，支持多角度觀察

• 配件：原裝控制電腦、顯示器、操作臺

• 應用領域：材料科學、納米科技、半導體檢測、金屬表面形貌、生物樣品結構分析

設備狀態：

• 成色：二手，保存良好

• 功能：已檢測，運行正常

• 附件：配套電腦、控制臺、顯示器

• 軟件：已安裝 SEM 控制軟件

應用范圍：
科研實驗室、高校研究所、工業檢測中心，特別適合對納米級結構和復雜表面進行高分辨率分析。